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表面探傷スコープ搭載「OneShotBRDF™光学検査技術」がレーザー学会産業賞の奨励賞を受賞
株式会社東芝、東芝情報システム株式会社および東芝テリー株式会社は、表面探傷スコープに搭載されている「OneShotBRDF™光学検査技術」により、第18回(2026年)レーザー学会産業賞の奨励賞を受賞しました。
本受賞は、レーザー技術を活用した先進的な光学検査技術としての独自性と、今後の産業応用に対する高い将来性が評価されたものです。
OPIE '26の会期2日目・4月23日に会場内で授賞式が行われ、受賞した全7製品・技術に対し表彰されました。
レーザー学会産業賞とは
レーザー学会産業賞は、レーザーに関する製品・技術の開発、実用化、普及を通じて、日本のレーザー関連産業の発展に貢献した優れた成果に対して授与される賞です。
本賞は以下の区分で構成されています。
・ 優秀賞:技術力および市場実績を重視
・ 奨励賞:市場開拓および将来性を重視
・ 貢献賞:基礎技術・長期的な産業貢献を評価
このうち奨励賞は、特に将来的な成長性と産業波及効果が期待される技術に対して授与されます。
レーザー学会について
レーザー学会(The Laser Society of Japan)は1973年に創立された、レーザーおよび光技術分野に特化した学術団体です。
同学会は、
・ レーザー技術に関する研究の推進
・ 学術講演会・研究会の開催
・ 産業界と学術界の連携促進
・ 技術の普及・発展への貢献
などを目的として活動しており、日本の光・レーザー分野における中核的な組織として重要な役割を担っています。
受賞技術:OneShotBRDF™光学検査技術
本技術は、反射光の方向分布(BRDF)をワンショット撮像により可視化する独自原理に基づく光学検査技術です。
技術の特長
・ 反射光の方向分布を一括取得(ワンショット化)
・ 微小欠陥やナノレベル表面形状の可視化
・ 高速・非接触・定量評価を実現
・ DMD(Digital Micro-mirror Device)による動的制御に対応
技術的価値
従来困難であった微細欠陥の検出・評価を可能とし、光学検査・計測分野に新たな手法を提示しています。
想定用途
・ 外観検査(精密部品、電子デバイスなど)
・ 自動検査システム
・ 三次元形状・表面評価
本技術は、学術的成果を基盤としながら実際の産業応用が可能な点、および今後の市場展開における高いポテンシャルが評価され、奨励賞の受賞に至りました。
東芝情報システム株式会社による受賞のお知らせページはこちら
※外部サイトへ移動します(別ウィンドウで開きます)
製品紹介:表面探傷スコープ
本受賞技術を応用した製品として、東芝テリーでは「表面探傷スコープ」を提供しています。
本製品は、光学系と撮像技術を融合した検査装置であり、光沢面における微小キズや異常を画像処理に依存せず視覚的に検出できることを特長としています。
製品特長
・ 光沢表面の微小キズを高感度に検出
・ 非接触での外観検査に対応
・ シンプルな構成で現場導入が容易
・ 検査工程の効率化・自動化に貢献
適用分野
・ 光学部品・金属部品・電子部品の外観検査
・ 鏡面加工部品の品質評価
・ 各種製造ラインにおけるインライン検査
本製品は、OneShotBRDF™光学検査技術のコンセプトをベースに、製造現場で実用的に利用可能な検査ソリューションとして展開しています。
本展示会の出展報告ページ
OPIE '26 出展の様子をご紹介しています。
https://www.toshiba-teli.co.jp/topics/news/2605001.htm
製品について
受賞したOneShotBRDF™光学検査技術搭載の表面探傷スコープ「SFD240305A」の詳細はこちらからご覧いただけます。
※ OneShotBRDFは、東芝情報システム株式会社の商標または登録商標です。
※ 掲載の会社名、製品名、名称およびロゴは、各社における商標または登録商標の場合があります。
記載の情報(展示会、製品仕様、お問い合わせ先、URL等)は、発表日現在の情報です。予告無しに変更される事がありますので、あらかじめご了承ください。

