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光と画像のセンサ&イメージングEXPO 2024(OPIE '24内)出展のお知らせ

東芝テリーは、OPIE '24内にて開催される『光と画像のセンサ&イメージングEXPO 2024』に出展し、特殊光学系と高精細カメラを組み合わせた画像処理ソフトウェア不要で光沢面の傷検査ができるシステム「表面探傷スコープ」の展示デモを行います。

ブース内では、表面探傷スコープによる無償サンプルテストをお試しいただけます。光沢平面に出来たキズの検出でお困りな方は、この機会にサンプルをご持参の上お立寄りください。
(サイズに制限がありますので、事前にご連絡をお願いいたします。)

ぜひ当社ブースにてご覧ください。
皆さまのご来場を心よりお待ちしております。

開催概要

展示会名
光と画像のセンサ&イメージングEXPO 2024
OPIE '24内)
開催日時
2024年4月24日(水)~4月26日(金) 10:00~17:00
開催場所
パシフィコ横浜 展示ホール
小間番号
K-44

「光と画像のセンサ&イメージングEXPO 2024」の弊社紹介ページへのリンク

OPIE '24

出展カメラ

SFD240305A

表面探傷スコープ SFD240305A

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BU2409Mシリーズ

USB3カメラ BU2409MCF

(表面探傷スコープ内で使用)

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記載の情報(展示会、製品仕様、お問い合わせ先、URL等)は、発表日現在の情報です。
予告無しに変更される事がありますので、あらかじめご了承ください。